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Weihnachtssterne: Schnelles Testsystem für Blattfleckenerreger

Das Stuttgarter Biotech-Unternehmen IDENTXX hat in Zusammenarbeit mit Selecta Klemm ein schnelles Nachweissystem für den Erreger der Blattfleckkrankheit an Weihnachssternen, Xanthomonas axonopodis pv. poinsettiicola (XAP), entwickelt. Der Test ermöglicht den PCR-basierten Nachweis von XAP innerhalb von nur fünf Tagen inklusive der genetischen Charakterisierung der häufigsten Stämme, verspricht das Unternehmen. 

Detektion von XAP mittels PCR basierender Analyse. Werkfoto

Die bisher verfügbaren Nachweisverfahren identifizieren infizierte Pflanzen frühestens nach 14 Tagen und sind für ein breit angelegtes Screening wenig geeignet, meldet IDENTXX.

Sein XAP-Test bestand die ersten Tests erfolgreich: Im Rahmen der Routineprüfung wurden in der Saison 2010/2011 rund 12.000 Poinsettien-Mutterpflanzen für Selecta durch IDENTXX überprüft. Alle während der durchgeführten Tests bestätigten zu 100 Prozent XAP-Freiheit in den Selecta-Mutterpflanzen-Quartieren.

Durch das PCR basierende Testverfahren sei es möglich, mit nur einem Test bis zu zehn Mutterpflanzen auf XAP zu überprüfen. Durch den hohen Probendurchsatz sei das Verfahren für ein Massenscreening visuell gesund aussehender großer Mutterpflanzenbestände geeignet.

Ergänzt werde der DNA-Nachweis durch mikrobiologische Tests im betriebsinternen Selecta-Diagnoselabor.